据英国《自然·通讯》杂志3日发表的一篇医学研究论文，中美科学家对一种名为“NanoVelcro”的芯片进行了大幅优化，新芯片包含很细的硅纳米线，可针对胎盘植入谱系（PAS）疾病进行无创早期诊断，这种疾病会导致孕产妇在分娩中死亡。
胎盘植入谱系疾病包括侵入性胎盘、植入性胎盘、穿透性胎盘，具体是指妊娠期间胎盘过度侵入子宫肌层，且在分娩时无法脱落。这会造成严重出血，甚至有时会导致孕产妇死亡。目前诊断该疾病的方法虽然也很有效，但有时依然会出现不够准确的情况，抑或是在资源匮乏的地区难以实现。
此次，包括美国加州大学洛杉矶分校、中国深圳人民医院等机构研究人员在内的团队，对之前开发的“NanoVelcro”芯片进行了优化，新芯片包含很细的硅纳米线，外部涂有能检测循环滋养层细胞（组成胎盘的细胞）的抗体。这些细胞会在胎盘发育过程中单个或聚集脱落到母体血液循环中，细胞数量的增加可能提示胎盘植入谱系疾病。
研究团队对168位孕妇进行了血检，有些孕妇被诊断出患有胎盘植入谱系疾病，有些被诊断为胎盘前置（胎盘覆盖宫颈内口），有些胎盘形成正常。团队发现，PAS组的单个和聚集循环滋养层细胞计数比其他两个组更高。同时，研究还发现，单个和聚集循环滋养层细胞的数量，有助于在妊娠早期将PAS从前置胎盘和正常胎盘中区分出来。
研究人员指出，现在需利用更大样本开展进一步研究。胎盘植入谱系疾病会导致孕产妇在分娩中出现非常严重的状况，而这种新的诊断技术则有望在不久的将来补充现有技术，提高妊娠早期诊断胎盘植入谱系疾病的准确性。
总编辑圈点：
老话说，产妇是“鬼门关上走一遭”，随着医学不断进步，孕产妇生命已得到极大程度的保护。但胎盘植入，仍是产科少见但非常凶险的并发症，如不及时果断处理，依然会危及产妇生命。这一疾病在近年来发病率呈上升趋势，因此我们很高兴看到，一种能及早诊断并阻止危险发生的技术手段，正走向实用。
（编辑：于思洋）
凡本网注明“来源：企业观察网”的所有作品，均为《企业观察报》社有限责任公司合法拥有版权或有权使用的作品，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的，应在授权范围内使用，并注明“来源：企业观察网”。违反上述声明者，本网将追究其相关法律责任。凡本网注明“来源：XXX（非企业观察网）”的作品，均转载自其它媒体，转载目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责。如其他媒体、网站或个人转载使用，须保留本网注明的“稿件来源”，并自负法律责任。如因作品内容、版权和其它问题需要同本网联系的，请在相关作品刊发之日起30日内进行。联系方式：010-68719660。
